高壓加速老化試驗箱(HAST)適用于半導體芯片行業(yè)以及航空、航天、兵器、船舶、核工業(yè)、科研院校等領域。通過對電子部品、元器件、集成電路以及材料、工藝等通過加速進行高溫、高濕、高壓循環(huán)及恒定試驗測試來確認其是否因耐久性(壽命)或環(huán)境變化而導致功能失效。

高壓加速老化試驗箱主要測試環(huán)境包含THB(主要的測試條件是溫度為85℃/相對濕度為85%/規(guī)定電壓）、PCT（通常指100%相對濕度的飽和蒸汽測試）、HAST（通常指相對濕度為85%的非飽和蒸汽測試）。

隨著社會發(fā)展進步，我們生產生活中需要使用的電子設備、電子產品越來越頻繁，對其質量品質的要求越來越高（如重量、壽命、安全、外形等）；這意味著生產商在選擇原材料及電子元件時需提出更高質量需求。以半導體模具為塑料材料為例：

試驗條件①在溫度為 85 ℃，濕度為85% 85% 的測試條件下，壽命周期超過500小時。 

②在溫度為121 ℃，濕度為100% 的測試條件下，壽命周期超過數(shù)十小時。

在滿足上述條件的情況下：推測試件在溫度為30℃和相對濕度為85%的通常使用環(huán)境下，使用壽命應超過10年。

綜上所述，可以對零件和材料做防潮性能測試，來檢查由濕度所造成的裂變或者失效，通過加速壽命測試來檢查試件防潮性能。高壓加速老化試驗箱可以加速暴露產品在研發(fā)、生產過程中的不良或缺陷，以便更好地完善產品的各項性能指標。

設計為滑動托盤:

①樣品托盤安置于工作倉的外部，放置樣品時可在倉外完成而不必把手放進爐腔里面操作，這樣可減小操作人員燒傷的危險。

②在工作倉外面完成老化測試的配線工作，操作便捷、工作效率高、安全系數(shù)大。